20#ifndef __VSF_TEST_PORT_APPCFG_H__
21# define __VSF_TEST_PORT_APPCFG_H__
23# if VSF_USE_TEST == ENABLED && VSF_TEST_CFG_USE_APPCFG_DATA_SYNC == ENABLED
28#ifndef VSF_TEST_APPCFG_KEY_PREFIX
29# define VSF_TEST_APPCFG_KEY_PREFIX "test"
66 char *name,
size_t name_size);
struct ieee80211_ext_chansw_ie data
Definition ieee80211.h:80
unsigned uint32_t
Definition stdint.h:9
Definition vsf_test.h:305
vsf_test_data_cmd_t
Device commands during data synchronization.
Definition vsf_test.h:277
void vsf_test_appcfg_data_sync(vsf_test_data_t *data, vsf_test_data_cmd_t cmd)
Synchronize data via appcfg command interface.
Definition vsf_test_port_appcfg.c:226
void vsf_test_appcfg_data_init(vsf_test_data_t *data)
Initialize the appcfg for data synchronization.
Definition vsf_test_port_appcfg.c:146
bool vsf_test_appcfg_read_case_result(uint32_t idx, uint32_t *result, char *name, size_t name_size)
Read test case result and name from appcfg.
Definition vsf_test_port_appcfg.c:321